PCT高壓老化試驗箱是縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間等性能測試必*儀器。它主要用于測試產(chǎn)品的耐高溫、高濕、高壓之性能；可以加速暴露產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)過程中的不良或缺陷，以便更好的完善產(chǎn)品之各項性能指標。

 

　　該試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測，測試其制品的耐壓性，氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力（如：溫度）與工作應力，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

 

　　PCT高壓老化試驗箱的使用方法：

　　1、將物品放入箱內(nèi)。關(guān)好箱門后接通電源。

　　2、試料準備：將試品逐一編號后，用試品夾鉤掛于試品轉(zhuǎn)盤上，以相互不接觸碰撞為宜。

　　3、待一切準備就緒，即關(guān)上箱門。

　　4、將電源插頭插上，開啟電源開關(guān)，及加熱開關(guān)，此時鼓風機同時開始工作。

　　5、把電源開關(guān)撥至“開”，此時電源指示燈亮，數(shù)顯控溫儀有數(shù)字顯示。

　　6、控溫儀設(shè)定?？販貎x顯示箱內(nèi)有溫度，一般情況下。加熱溫度到后過一段時間進入恒溫狀態(tài)。

　　7、當所需工作溫度較低時，可采用二次設(shè)定方法，如需工作溫度80℃時，第一次可設(shè)定70℃，等溫度過沖回落時，在第二次設(shè)定80℃，這樣可降低甚至杜絕溫度過沖現(xiàn)象，使箱內(nèi)溫度盡快進入恒溫狀態(tài)。

　　8、開啟轉(zhuǎn)盤開關(guān)，使試樣以10-16r/min速度在箱內(nèi)均勻旋轉(zhuǎn)。

　　9、根據(jù)不同的物品，不同的濕度程度，選擇不同的干燥溫度和時間。

　　10、結(jié)束后，把電源開關(guān)撥至“關(guān)”處，但不能馬上打開箱門取出物品，小心燙傷，可先打開箱門降低箱內(nèi)溫度再取出物品。